20170711厚翼科技科技午茶会 - 珠海场

  • 2017/07/11(Tue) 13:40(+0800) ~ 17:00(+0800) ( iCal/Outlook, Google Calendar )
  • 珠海南方集成电路设计服务中心培训室 新经济资源开发港博士楼B101 / 珠海唐家湾镇哈工大路1号号
  • 厚翼科技HOY TechContact Organizer
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厚翼科技的茶会将介绍产业最先进的高效能即时记忆体检测与修复技术，让您们在工作繁忙之余，利用轻松的午茶时间，了解最新的产业界动态！

​日期:2017/07/11
時間:13:40~17:00
地點: 珠海南方集成电路设计服务中心 培训室
珠海唐家湾镇哈工大路1号 新经济资源开发港博士楼B101​

​​欢迎各公司的设计工程师、软体工程师、产品经理及对厚翼科技有兴趣的评估人员共襄盛举！

 

​厚翼科技

 
​

Organizer

<p style="margin: 0px;"><span style="margin: 0px; font-family: 標楷體; font-size: 14pt;"><font color="#000000">厚翼科技基於多項記憶體測試與修復專利，致力於創新的各類的記憶體測試與修復技術的研發，以便對全球快速成長的系統晶片（</font></span><span lang="EN-US" style="margin: 0px; font-size: 14pt;"><font color="#000000" face="Times New Roman">SoC; System on Chip</font></span><span style="margin: 0px; font-family: 標楷體; font-size: 14pt;"><font color="#000000">）架構提供更可靠的記憶體測試與修復的服務。</font><span style="margin: 0px; color: black;">現今各種電子產品功能日趨複雜，系統晶片設計需要更多的記憶體，系統晶片設計廠商正面臨著產品對成本與節能等各方面的需求。厚翼科技的各項記憶體測試專利所建構出的創新可程式化</span><font color="#000000">暨管線式架構</font><span style="margin: 0px; color: black;">記憶體測試技術，</span><font color="#000000">提供給客戶最佳化的記憶體測試方式。除了精準的記憶體測試技術之外，厚翼科技具有專利的累加式記憶體修復技術，提供給客戶性價比最高的記憶體修復解決方案。此外，為了因應日趨複雜的車用電子晶片與物聯網應用晶片，厚翼科技在非揮發性記憶體</font><span lang="EN-US" style="margin: 0px;"><font color="#000000">(</font></span></span><span lang="EN-US" style="margin: 0px; font-size: 14pt;"><font color="#000000" face="Times New Roman">NVM; Non-Volatile Memory</font></span><span lang="EN-US" style="margin: 0px; font-family: 標楷體; font-size: 14pt;"><font color="#000000">)</font></span><span style="margin: 0px; font-family: 標楷體; font-size: 14pt;"><font color="#000000">測試與修復都有核心專利技術，提供車用電子晶片與物聯網應用晶片更可靠的非揮發性記憶體測試與修復解決方案。厚翼科技的各類記憶體測試與修復的專利建構成完整的記憶體測試與修復的解決方案。厚翼科技能夠和客戶緊密合作提供技術支援，以便協助客戶完成高品質設計，增加產品競爭力。展望競爭激烈的電子系統產品市場，當你計畫架構新的系統晶片、車用電子晶片與物聯網應用產品時，</font><span style="margin: 0px; color: black;">厚翼科技</span><font color="#000000">憑藉著完整的記憶體測試與修復技術，協助你的團隊有效的控制產品良率與成本。</font></span></p> <p>&nbsp;</p> 厚翼科技HOY Tech Contact Organizer

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一般票

2017/05/04 00:00(+0800) ~ 2017/07/07 18:00(+0800) End of Sale
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